超采样成像技术突破像素分辨率极限
AI导读:
中国科学院空天信息创新研究院张泽团队成功研发超采样成像技术,实现像素“分割”,显著提升图像传感器的像素分辨率和成像质量,为天文、遥感等领域的高精度成像提供了新的解决方案。
中国科学院空天信息创新研究院的张泽研究员团队近日取得了突破性进展,成功研发出超采样成像技术,实现了像素的“分割”。这一创新技术能够大幅提升图像传感器的像素分辨率和成像质量,相关研究成果已在《激光与光子学评论》杂志上发表。
在天文、遥感等需要高精度成像的领域,数字图像传感器的像素规模和性能至关重要。然而,当前的芯片制造水平已使数字图像传感器的像素分辨率和成像质量接近极限,难以再有大幅提升。超采样成像技术的出现,为突破这一限制提供了可能。该技术能够利用少数像素传感器实现大规模像素显像能力,绕过芯片制造水平的限制,为像素分辨率的提升开辟了新的途径。
张泽团队开发的超采样成像技术,目前可将像素规模提高至原来的5×5倍。也就是说,利用像素分辨率为1000×1000的数字图像传感器,可以实现5000×5000像素分辨率的成像。并且,随着技术的不断优化,该像素分辨率还有进一步提升的潜力。通过这项技术,原有的像素可以被“分割”,等效变成更多的像素,从而实现像素规模的显著提升。
以红外图像传感器为例,目前市场化的成像芯片分辨率普遍在2000×2000以下,而更高分辨率的成像芯片如3000×3000、4000×4000等尚未有成熟的商用产品。然而,采用超采样成像技术,就可以利用2000×2000的芯片实现8000×8000以上的像素分辨率,这对于提高红外图像传感器的成像质量具有重要意义。
据张泽介绍,目前该技术已在室内、室外对无人机、建筑、高铁、月亮等目标进行了成像试验,结果显示出良好的技术稳定性和成像效果。这一技术的成功研发,不仅为天文、遥感等领域的高精度成像提供了新的解决方案,也为图像传感器技术的发展开辟了新的方向。
(文章来源:科技日报,图片来源:网络)
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